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为了减小误差梅特勒十万分之一电子天平可用哪些方式称量
时间:2016-07-08 09:06 来源:梅特勒天平专卖网 作者:小编 [ 加入收藏 ] [ 打印本文 ] [ 关闭窗口 ]

  梅特勒十万分之一电子天平就是利用电磁力或电磁力矩平衡原理进行称量的天平,其精确度和稳定性都较高,此外梅特勒十万分之一电子天平还配备了LCD液晶显示器,读数准确清晰。梅特勒十万分之一电子天平属于精密电子仪器中的一种,容易受到外界环境因素的影响产生误差,因此我们要找出这些误差的来源,这样才能减少误差得出更精确的结果,下面就由梅特勒天平专卖网的小编为大家具体分析一下为了减小误差梅特勒十万分之一电子天平可用哪些方式称量,希望能够对广大梅特勒十万分之一电子天平的使用者们有所帮助。

  首先我们来了解一下梅特勒十万分之一电子天平误差来源:

  1.方法误差:方法误差有许多种情况,如由于采用近似的测量方法而造成的误差;又如测量圆轴直径d采用测其圆周长s,然后用 计算的方法,由于 取值不同会引起误差。由于测量方法错误而引起的误差,如梅特勒十万分之一电子天平安装使用方法不正确。方法误差还包括测量时所依据的原理不正确而产生的误差。

  2.人员误差:由于测量者受分辨力的限制,因工作疲劳引起的视觉器官的生理变化、反应速度及固有习惯引起的误差,以及精神上的一时疏忽所引起的误差。

  3.装置误差:用来以固定形式复现标准量值的标准量具、进行测量时使用的仪器或仪表以及仪器的附近及附属设备不可避免地都含有误差。

  4.环境误差:由于各种环境因素与要求的标准状态不一致,而引起的测量装置和被测量本身的变化所造成的误差,如温度、湿度、气压(引起空气各部分的扰动)、振动、电磁场、光线等引起的误差。通常梅特勒十万分之一电子天平在规定条件下使用产生的示值误差称为基本误差,超出此条件使用引起的误差称为附加误差。

  其次是想要减小误差对于梅特勒十万分之一电子天平的影响应该从以下几个方面入手:

  1.传感器技术指标的保证。选择各项技术指标满足准确度要求的传感器是保证梅特勒十万分之一电子天平质量的关键。线性度、蠕变、空载温度系数及灵敏度温度系数是传感器的重要指标。对于每一个批量的传感器必须按照国家有关标准要求的取样率进行抽样检查和高低温实验。

  2.梅特勒十万分之一电子天平的非线性补偿。在理想情况下,梅特勒十万分之一电子天平经模数转换后的数字量和施加在梅特勒十万分之一电子天平上的重量应是线性关系。生产过程中进行准确度标定时,使用内部的计算机程序进行单点校正。按照理想直线计算出数字与重量的斜率后存储在存储器中。这就无法克服传感器和积分器产生的非线性误差。采用多点校正,用多条直线来逼近一条曲线有效地减少了非线性误差又不增加硬件成本。例如,1/3000准确度的梅特勒十万分之一电子天平采用3点校正,1/5000准确度的梅特勒十万分之一电子天平采用5点校正。

  3.梅特勒十万分之一电子天平电路的温度系数。理论分析和实验证明输入放大器的输入电阻和反馈电阻的温度系数是影响梅特勒十万分之一电子天平灵敏度温度系数的重要因素,必须选择温度系数是5×10-6的金属膜电阻。对于生产的每一台梅特勒十万分之一电子天平必须进行高温测试。对于某些温度系数少量超差的产品可以用温度系数小于25×10-6的金属膜电阻进行补偿。

  为了减小误差梅特勒十万分之一电子天平可用以下方式称量:

  第一、梅特勒十万分之一电子天平的递减称量法。又称减量法,此法用于称量一定质量范围的样品或试剂。在称量过程中样品易吸水、易氧化或易与CO2等反应时,可选择此法。由于称取试样的质量是由两次称量之差求得,故也称差减法。称量步骤如下:从干燥器中用纸带(或纸片)夹住称量瓶后取出称量瓶(注意:不要让手指直接触及称瓶和瓶盖),用纸片夹住称量瓶盖柄,打开瓶盖,用牛角匙加入适量试样(一般为称一份试样量的整数倍),盖上瓶盖。称出称量瓶加试样后的准确质量。将称量瓶从梅特勒十万分之一电子天平上取出,在接收容器的上方倾斜瓶身,用称量瓶盖轻敲瓶口上部使试样慢慢落入容器中,瓶盖始终不要离开接受器上方。当倾出的试样接近所需量(可从体积上估计或试重得知)时,一边继续用瓶盖轻敲瓶口,一边逐渐将瓶身竖直,使粘附在瓶口上的试样落回称量瓶,然后盖好瓶盖,准确称其质量。两次质量之差,即为试样的质量。按上述方法连续递减,可称量多份试样。有时一次很难得到合乎质量范围要求的试样,可重复上述称量操作1~2次。

  第二、梅特勒十万分之一电子天平的直接称量法。此法是将称量物直接放在梅特勒十万分之一电子天平盘上直接称量物体的质量。例如,称量小烧杯的质量,容量器皿校正中称量某容量瓶的质量,重量分析实验中称量某坩埚的质量等,都使用这种称量法。梅特勒十万分之一电子天平的去皮功能。梅特勒十万分之一电子天平称量时,必须先称出容器重量,而梅特勒十万分之一电子天平就可以用去皮功能,不论是直接称量还是差减称量都很方便,而且对称量精度有所提高,如在集料筛分试验时,用去皮功能使操作既方便又精确,筛分时要把每一分计筛余进行称量,当把筛上集料取下时容易丢失,特别是细集料更容易丢失,导致累计筛余与总量之比超出标准要求,如果利用梅特勒十万分之一电子天平的去皮功能进行称量,就不用考虑集料的丢失,先把筛子与集料一起在梅特勒十万分之一电子天平上称量,然后按一下去皮键,把筛子上的集料清理干净,在清理时还可轻拍筛框清理集料,把清理干净的筛子在梅特勒十万分之一电子天平上称一下,这时梅特勒十万分之一电子天平上会显示一个负数,该值的绝对值即是集料的质量。

  第三、梅特勒十万分之一电子天平的固定质量称量法。此法又称增量法,此法用于称量某一固定质量的试剂(如基准物质)或试样。这种称量操作的速度很慢,适于称量不易吸潮、在空气中能稳定存在的粉末状或小颗粒(最小颗粒应小于0.1 mg,以便容易调节其质量)样品。固定质量称量法如图3所示。注意:若不慎加入试剂超过指定质量,应先关闭升降旋钮,然后用牛角匙取出多余试剂。重复上述操作,直至试剂质量符合指定要求为止。严格要求时,取出的多余试剂应弃去,不要放回原试剂瓶中。操作时不能将试剂散落于梅特勒十万分之一电子天平盘等容器以外的地方,称好的试剂必须定量地由表面皿等容器直接转入接受容器,此即所谓“定量转移”。

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